Plateforme 6- Nanoscopy
- Responsables Techniques : Dr. Kaouther Marzouki, Dr. Tarek Sekrafi
- kaouther.marzouki@crmn.mesrs.tn / tarek.sekrafi@crmn.rnrt.tn
- +216 73 823 003
Description
La plateforme de Nanoscopie a pour vocation de réaliser des analyses pour la prestation de service utilisant les technologies de pointe en micro- et nano caractérisations.
Réservation Nano AFM RAMAN Horiba
Description Nano AFM RAMAN Horiba
Nano- RAMAN de HORIBA
Le CRMN dispose d'un microscope hautement performant, AFM-Raman constitué d’un microscope à force atomique SmartSPM et d’un microspectromètre Raman LabRAM HR Evolution entièrement automatisé.
Le Nono-RAMAN permet d’étudier les propriétés physiques et chimiques des matériaux à l’échelle nanométrique.
Le Nono-RAMAN du CRMN offre une large utilisation:
1- L’analyse Raman standard,
2- la photoluminecence (PL),
3- La spectroscopie Raman exaltée de surface (SERS).
Réservation MEB APREO S de la marque FEI
Description MEB APREO S de la marque FEI
MEB-EDX HR
Cette technique permet de réaliser des images en haute résolution de surfaces d’échantillons, et analyser des éléments et de la composition chimique.
L'analyse MEB-EDX peut fournir plusieurs informations :
1. Imagerie : La microscopie électronique à balayage est utilisé essentiellement pour obtenir des images détaillées de la surface de l'échantillon, révélant sa topographie et sa structure à une échelle microscopique.
2. Composition élémentaire : La spectroscopie de dispersion d'énergie permet de donner une analyse chimique locale précise, ainsi qu’une analyse quantitative.
3. Cartographie élémentaire : L'analyse MEB-EDX peut également générer des cartes de distribution des éléments chimiques constituant l'échantillon, permettant de visualiser leur répartition spatiale.
Réservation Microscope à force atomique AFM
Description Microscope à force atomique AFM
La Microscopie à Force Atomique, AFM est une technique utilisée pour étudier la topographie des surfaces avec la possibilité d'obtenir une résolution à l'échelle de l'atome.
Cette technique a pour élément de base une pointe souple dont l'extrémité a un rayon de courbure de quelques nanomètres. Notre AFM Innova offre la plus grande valeur en matière d'imagerie haute résolution
et un large éventail de fonctionnalités dans la recherche scientifique la plus exigeante.
Notre microscope AFM INNOVA possède des modes qui permettent aux utilisateurs d’étudier les propriétés électriques, magnétiques des échantillons.
D’autres caractérisations spécifiques sont aussi disponibles.